等倾干涉是指当平行光线以相同角度入射到薄膜上时产生的干涉现象。干涉图样由光程差决定，明暗条纹满足以下条件：
Δ = 2d√(n² - sin²θ) + λ/2 = mλ (明条纹)
Δ = 2d√(n² - sin²θ) + λ/2 = (m + 1/2)λ (暗条纹)
其中：
- Δ - 光程差
- d - 薄膜厚度或间距 (0.001-0.01mm)
- n - 介质折射率（本例中假设n=1）
- θ - 入射角
- λ - 光波波长
- m - 干涉级次
应用领域
等倾干涉广泛应用于光学测量、薄膜厚度检测、光学仪器校准等领域。通过分析干涉图样，可以精确测量微小长度、角度和折射率等物理量。
间距对干涉的影响
当间距d在0.001-0.01mm范围内变化时，干涉条纹的密度会显著变化：
- 较小的d值（接近0.001mm）会产生较稀疏的干涉条纹
- 较大的d值（接近0.01mm）会产生较密集的干涉条纹